Patent Trial and Appeal Board December 2019 casesM¿rtensson, Linus et al.David K. Lim et al.Ehud (Udi) DaonKAPLAN, David L. et al.Yarvis, Mark D. et al.Vigholm, Bo et al.Szymanski, David A.Marking, Aaron et al.Jean-Francois Lecostaouec et al.Zhou, Weifeng et al.Samuel C. White et al.EDWARDS, Eduard et al.Shannon Elizabeth. KlingmanJones, Kim Stephen. et al.Pietron, Jeremy J. et al.Link, DavidJACKSON, CHRISTOPHER S. et al.Howard W. Lutnick et al.Bamberg, Joachim et al.Phelps, Nicholas Brandon.ADAM, Sean Patrick. et al.Mavridis, Harilaos et al.Paul S. Ho et al.Milne, James R. et al.Guo, Zhihua et al.Yokoyama, Ayumu et al.Mark Barthold et al.Gregory James Alexander. AndrigoAdam Wheeler et al.Paula BuzzardOksen Toros. Baris et al.Akbay, Kunter Seref. et al.Stephen Trey. Moore et al.ANDERSON, JAMESKalser, Gary et al.Polinati, Chinna et al.Brijesh Tripathi et al.Steven A. Jameson et al.nullIosif Gasparakis et al.nullLora Lee. Spangler et al.Jerry MoroAndreas Weinhausel et al.Kam Lock et al.Chaudhri, Imran N. et al.Xu, Richard H.John J. Landy et al.Robert A. Vandal et al.Starkey, GlennShao, Peng et al.Howard W. Lutnick et al.Raoul FlorentTimothy Noel. Hentschel et al.Xiuwen Tu et al.Michael J. Kavis et al.Dave Alberto Tavares. Cavalcanti et al.Alexander J. Kelly et al.John Sousa et al.Perinkulum I. Ganesh et al.Perlegos, Nick John.Hamed TadayonKOBAYASHI, Susumu et al.Contreras, David et al.Juha Suorajaervi et al.Andrea Tallada, Alex et al.Oliver LueckingJ¿Rgen Herrmann et al.Hong Ge et al.Yulun Wang et al.High, Donald R. et al.Robert CritesAssaf Preiss et al.WENZEL, Karl et al.Chi Kang Liu et al.Stanley K. Poon et al.Leiming Li et al.Christopher S. Tucker et al.Dilip Krishnaswamy et al.Janarthanam, Suriyaprakash Ayyangar. et al.Hyung-Jun Song et al.Pankaj Shah et al.Espen D. Kateraas et al.Schmidt, Ralph et al.Jason Czaplewski et al.Francisco Alvarez Cavazos et al.Vittorio Bologna et al.Gary Gilchrist et al.Marc JoyeAmir Peles et al.Yudanov, DmitriTomohisa, Hiroshi et al.Charles Gerald. Connor et al.Cheong, Wun Chet Davy. et al.Averill, Richard F. et al.Potucek, Kevin L. et al.Paul MorinvilleArne K. Lewis et al.FRIESEN, Kenneth Kyle. et al.Howard W. Lutnick et al.Milan BozicSweeting, Michael et al.San Quach et al.Grieco, James R.Kolbe, Ludger et al.Block, DouglasFUJIWARA, TakanoriDinesh Garg et al.Martin, Douglas Raymond. et al.FUJIWARA, Shuji et al.EMED TECHNOLOGIES CORPORATION (ASSIGNEE) et al.Karl-Heinz Kuefer et al.Rachid M. Alameh et al.Co, Juanito Yu. et al.NAKAMURA, Yoshihide et al.Juergen Nowottnick et al.Ebner, Fritz Francis. et al.RAMASUBRAMONIAN, Adarsh Krishnan et al.Wolf Peter. LudwigHess, Thomas et al.KEMPER, Nicolaas Rudolf. et al.Venkataramani Anandan et al.Jayant Jain et al.Luke St. Clair et al.Paulus, Wolfgang et al.nullnullVakil, Sanjay S. et al.Herbert A. Chin et al.Meckel, Nathan K.Rock, EricFLORES, ROMELIA H. et al.Weisse, Michael A. et al.Steven W. LundbergMichael Butz et al.Tung-Hsing Wu et al.Teruhiko Goda et al.Barry Appelman et al.Hodjat, Babak et al.Robert Scott. TrowbridgeMartinus Petrus. Creusen et al.Jie Zhou et al.Wenfu Wu et al.Stefan BrachtPrateek Srivastava et al.AWAD, Yassin Aden. et al.Emre Mehmet. Kiciman et al.Yiotis KatsambasKACZMAREK, Michal et al.Satoshi Yanagisawa et al.Young Min Kim et al.Naratil, Thomas C. et al.Colby, E. Bruce. et al.John Hayes et al.Gregory Badros et al.Jens Kugler et al.James Rowe et al.Song LiJesse H. Davis et al.Elisha George. Pierce et al.Robert W. FascianoJames T. TannerRenshaw, Anthony A.WANG, Yibing MichelleSHIBUYA, Yu et al.Sebastian Engel et al.Ollila, MikkoPuri, Sonali et al.Turner, DonPerry L. Johnson et al.Philbin, Michael Timothy.Tyler, Matthew R. et al.Felip, Carlos et al.Miettinen, Mika et al.Richard S. GinnKaren A. Moffat et al.Michael L. Weiland et al.Fitzpatrick, Daniel R. et al.Brice Dubost et al.Kevin R. Williams et al.Qiang Li et al.Jukka Honkola et al.Mark David. Ring et al.nullDong Tian et al.Hotte, Denis et al.Nico SteinhardtRobert Giannini et al.WRIGHT, James et al.David W. Carr et al.Duarte, Daniel Thomas.Osvaldo Jorge. Lopez et al.James W. Neal et al.Colin Tanner et al.Devendra BajpaiOMEGA PATENTS, LLC et al.Jun Sang. Park et al.Liss, JonathanBatten, Randolph et al.Thomas W. HeeterMing Jia et al.Howard W. Lutnick et al.Mitchell, Graeme Ramsay. et al.Avi EfratyBin GengLee, Matthew Michael.Vladislav Scholgol et al.Daniel George. PurkisAlexander SternMartin, Timothy M. et al.Satish Gudiboina et al.Janusz Jeremiasz. FilipiakHachtmann, Bruce et al.McBrien, Gary M.Louie F. Pento et al.Ygdal Naouri et al.Meyer, Jason et al.Vidarshana Wijethilaka. BandaraLEE, Hee-ran et al.Rajamani, Nithya et al.Potyrailo, Radislav Alexandrovich. et al.David Szymkowski et al.Robert William. Carthcart et al.Alexandra Macomber. KlineDang, Tri T. et al.Peter Wilde et al.Lei Zhao et al.Choi, Woo-Jun et al.Deepak Suryanarayanan et al.Mian HuangAbi-Jaoudeh, Nadine et al.CHANG, HOYT Y. et al.Donald J. HejnaStephen FroehlichOCHI, KAZUHIRO et al.Roehl, Ingo et al.Sundar Bala et al.Christopher Michael. Jones et al.Mary Lynn. Jump et al.Valery Vasilievich. Samsonov et al.Marios Hadjivassilliou et al.Milan BozicAudrey Josephine. Leicher et al.Neil L. Mcclure et al.Kolbe, Ludger et al.John Mortimer et al.Larry Drake. HansenTom Miglis et al.Carl J. Reed et al.SERRE, Pauline et al.Duering, Klaus et al.Nan, Jennifer et al.Wei Liang et al.KANG, Gyeong-min et al.Debasish Banerjee et al.May, Philip Edward. et al.Murat Akbacak et al.Max Eulenstein et al.Kelvin S. Gray et al.Inatomi, Shinichiro et al.Luiz A. Rizzolo et al.David Robert. 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RaniereKoki Kanehira et al.Avadis Tevanian et al.Syed, Hussain Zaheer. et al.Wisselink, WillemDavid MizellJohn Owlett et al.Marc Diana et al.WENGER, Kevin et al.Zelsacher, Rudolf et al.Haines, Robyn Aylor. et al.Alj, Youssef et al.DONOVAN, Megan et al.Paterson, Blake et al.Amr M. Lotfy et al.PETROSKY, LYMAN J. et al.Lorelei FayAlan C. Cannistraro et al.Richard Mackenzie et al.Stephan GronenbornnullnullAgarwal, Shubham et al.Adrian Peter. Revington et al.Amnon Perlmutter et al.Peter Holm. Tygesen et al.Hernan A. Cunico et al.Lieven Elvire Colette. Baert et al.ZUMBRUNN, Werner et al.Kondameedi, NaveenJohn StallbaumerBrigette White-Mcfarland et al.DiPIERRO, GuyGuven Burc. Arpat et al.Georgy Samsonidze et al.Don Bowman et al.Brian Benicewicz et al.James Thomas. Doyle et al.Dirk Burdinski et al.McFadzean, David Bruce. et al.Samuel I. Brandt et al.Thomas Hess et al.KOKAWA, RyoheiMa, Ruiqing et al.Christopher R. Dance et al.Hadden, Erik G. et al.Suciu, Gabriel L. et al.SCHOTT AGGuenter WiesingerHolger EliasJoseph M. Asher et al.Wai-Lin MawFrancisco GomezKurt A. Burkhart et al.Xin Feng et al.Gregor HessSumeet Gupta et al.Robert Kincaid et al.Masayuki Takahama et al.Tansley, IanRuhlander, GregorySMITH, Nathan James. et al.MAGER, JENNIFER et al.KING, Brian Michael. et al.DULUK, Jerome F. et al.Robert C. FarnanJulio A. ChirinosnullLukyanov, Alexander et al.Keiser, LukeHolst, Hans Henrik. et al.Kymal, Chandran et al.Perrin, Steven Richard. et al.Francesco AttanasioJ. Houston. Cook et al.Bennett, William Thomas. et al.Joseph Robert. ParkerArkko, Jari et al.Mika Silvennoinen et al.Brett MacdonaldDePuy Synthes Products, Inc.Talstra, Joop Cornelis. et al.Michael Bodary et al.Hoffman, Edward A. et al.Thomas Schulz et al.Guangyu Zou et al.Michael Bucholtz et al.Gabriel Tarasuk-Levin et al.Jonas, Kenneth J. et al.Ryan James. Goss et al.Jonathan David. 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Bucci et al.Stuart Fraser et al.Justin Xavier. HoweGillard, Jean-ChristopheAntero Tossavainen et al.Luis Alberto. CruzSpitzer, John F. et al.William J. Westerinen et al.YU, Han et al.Katz, Sheldon et al.Paul Carl. Kocher et al.Daniel G. EdwardsOgle, Stuart et al.Schulz, Frank et al.Dirk HammerschmidtMorrison, Adam P. et al.Foote, Steven et al.Robert H. ScheerHarriman, Steven K. et al.Frederick Wilson. Wheeler et al.Ronald D. MatichMartin, Nathaniel G. et al.Thomas Bertels et al.Michael E. Jackson et al.Lieven Trappeniers et al.Yao V. KORENEVSKI et al.nullJohan Kildal et al.AL-MALKI, Abdullah R.RICHARDS, Ronald et al.Jeffrey Lee. Mclaren et al.Purvin Bibhas. Pandit et al.Bernstein, Michael S. et al.Zelle, Dagmar et al.Amaitis, Lee et al.Haiqin Wang et al.YABE, Masaaki et al.Georgiev, Sergey et al.Hu, Yuequan et al.Wilcox, Robert L. et al.Nicholas V. Bruno et al.Anthony Friebel et al.Macheiner, Stefan et al.Espen Berger et al.Lanphear, Damon et al.Ran Biron et al.James Vaughan. 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